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  차세대 메모리 DDR3 양산용 검사장비 세계 첫 개발
  08-06-04 13329      

전자신문에는 당사가 차세대 메모리인 DDR3 양산용 검사장비를 세계 처음으로 개발하는 데 성공했다는 기사가 게재되었습니다.

본지에서는 당사가 DDR3 양산용 메모리 검사장비인 ‘UNI5200’을 개발 완료하고 현재 양산 검증을 진행 중이라고 소개하면서, 해외 업체가 독식해온 검사장비 분야의 국산화율을 한 차원 끌어올릴 것으로 설명하고 있습니다.

[2008-06-04 유니테스트]

 
   
유니테스트, 멤스 프로브카드 개발
디지털타임즈, [월요초대석] 김종현 유니테스트 사장 인터뷰 기사