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  유니테스트, 멤스 프로브카드 개발
  08-06-24 13836      

전자신문에는 당사가 초정밀전자기계(MEMS) 기술을 적용한 반도체 검사장치인 멤스 프로브카드 개발에 성공했다는 기사가 게재되었습니다.

본지에서는 당사가 주력 사업인 반도체 후공정용 메모리 모듈 및 컴포넌트 검사장비에 이어 웨이퍼 공정용 멤스 프로브카드까지 갖춤으로써 반도체 검사장비 사업을 한층 다각화할 수 있게 됐다고 설명하고 있습니다.

[2008-06-17 유니테스트]

 
   
유니테스트, 플래시 메모리 테스터 개발
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