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  유니테스트, 일체형 융합 검사장비 '장영실상' 수상
  12-05-15 7627      

한경닷컴에서는 당사가 세계 최초로 400Mbps급 메모리 코어앤 번인(Memory Core & Burn-In) 일체형 검사장비 개발에 성공한 공로를 인정받아 제20주차 IR52 장영실상을 수상했다는 기사가 게재되어 있습니다.

본 기사에는 유니테스트는 ATE(Automatic Test Equipment) 개발 원천기술을 기반으로 한 코어 테스트 및 번인 테스트를 동시에 할 수 있는 일체형 융합 장비 개발에 성공했으며, 개발하는 과정에서 반도체 테스트를 위한 패턴 생성 장치 및 패턴 생성 방법에 관한 특허 등 회사에서 직접 취득한 독자적인 원천특허 약 15종의 특허 기술이 사용되어 개발됐다"고 설명하고 있습니다.

 
   
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