UNI940A
| Test Device | DRAM |
|---|---|
| Parallelism | 6,144 |
| Temperature Range | -10˚C ~ 125˚C |
| Test Frequency | 400Mbps |
| Dimension (W x D x H, mm) |
3,600 x 2,000 x 2,225 |
| Operating System | Linux |
UNI940FL
메모리 반도체의 모든 공정이 완료된 후 Chip 상태에서 고온/저온 상태에서 메모리를 구동하여 초기 불량을 걸러내는 Burn-in 장비입니다.
| Test Device | NAND Flash |
|---|---|
| Parallelism | 9,216 |
| Temperature Range | 25℃ ~ 110℃ |
| Test Frequency | 50Mbps |
| Dimension (W x D x H, mm) |
3,400 x 1,800 x 2,300 |
| Operating System | Linux |
