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Semiconductor

New Technology Tester Leader

UNI5900
UNI5900

메모리 반도체의 모든 공정이 완료된 후 Chip 상태에서 Device의 전기적인 성능을 검사하는 장비이며, Device의 Speed, Data Read/Write, Refresh등의 성능을 검사하는 장비입니다.

Test Device LPDDR4, GDDR5,DDR5
Parallelism 512
Speed 9Gbps
Temperature Range -40℃ ~ 125℃
Dimension
(W x D x H, mm)
Main Frame: 800 x 1,020 x 2,155
Test Head: 1,400 x 1,000 x 962
Operating System Linux
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