
UNI5900
메모리 반도체의 모든 공정이 완료된 후 Chip 상태에서 Device의 전기적인 성능을 검사하는 장비이며, Device의 Speed, Data Read/Write, Refresh등의 성능을 검사하는 장비입니다.
Test Device | LPDDR4, GDDR5,DDR5 |
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Parallelism | 512 |
Speed | 9Gbps |
Temperature Range | -40℃ ~ 125℃ |
Dimension (W x D x H, mm) |
Main Frame: 800 x 1,020 x 2,155
Test Head: 1,400 x 1,000 x 962 |
Operating System | Linux |